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详细介绍
CSK-IA探伤仪试块是由IIW试块的基础上改进而来的
主要用途有:
1、利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;
2、利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;
3、利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;
4、利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5、利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;
6、利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7、利用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。
制作满足3NB/T 47013-2015要求试块以及中华人民共和国*规定探伤试块可以根据要求特出定做，并配有检定证书。
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