详细介绍
Fluke TiS75-红外成像仪概述:
- 通过专有的 IR-Fusion® 融合和 PIP 模式快速找出问题 – 捕捉所需细节以分析问题并清楚识别所在位置
Fluke TiS75-红外成像仪主要特性:
- D:S(距离与光点尺寸比)为 504:1
- 温度测量范围 -20 °C 至 550 °C(–4 °F 至 1022 °F)
技术参数:
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北京捷睿森电力科技有限公司 |
参考价 | 面议 |
更新时间:2022-10-21 16:31:29浏览次数:149
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