NOISEKEN模拟试验器INS-4020

1 静电放电模拟试验器

 ESS-S3011>-30R

 ESS-B3011>-30R

 ESS-2000AX

 TC-815R放电仪

 ESS-801/ESS-801GL试验环境

 ZAP-1A自动放电系统

 IEC61000-4-2Ed.2试验标准概要

2 半导体器件静电放电模拟试验器

 ESS-6002/6008

3 高频噪声模拟试验器

 INS-4020/4040

 INS-AX2系列

 高频噪声模拟试验概要

4 电快速瞬变脉冲群模拟试验器

 FNS-AX3A16B/B50B

 IEC61000-4-4Ed.2试验标准概要

5 雷击浪涌模拟试验器

 LSS-6230

 LSS-F02系列（IEC标准）

 IEC61000-4-5Ed.2试验标准概要

 LSS-720B（JEC标准）

 JEC标准概要

6 电源电压变动模拟试验器

 VDS-2002

 VDS-1007/VDS-2007

 VDS-230S/250S

 IEC61000-4-11Ed.2试验标准概要

7 衰减振荡波模拟试验器

 SWCS-931SD

 SWCS-932/S4

8 PCB板电磁波解析系统/三坐标辐射测试系统

 EPS-3007PCB板电磁波干扰源探查系统

 EPS-6000

 EPS-01A三坐标辐射测试系统

NOISEKEN模拟试验器INS-4020

日本OPTEX FA 位移传感器 

日本OPTEX FA光电传感器

日本OPTEX FA通用型传感器

日本OPTEX FA光纤传感器 

日本OPTEX FA背景抵制型传感器

日本OPTEX FA透明体检测传感器

日本OPTEX FA放大器分离型传感器

 日本OPTEX FA激光位移传感器

日本OPTEX FA自由电源型传感器

日本OPTEX FA颜色标记识别传感器 

日本OPTEX FA雷射激光型传感器

日本OPTEX FA超薄型光电传感器

日本OPTEX FA防水型光电传感器

日本OPTEX FA热成像仪

日本OPTEX FA*

日本OPTEX FA视觉图像传感器

JD-HL03CN JD-HL03CP JD-HL03N JD-HL03P JD-HR80CN JD-HR80CP JD-HR80N JD-HR80P JD-HW08CN JD-HW08CP JD-HW08N JD-HW08P JD-SL03CN JD-SL03CP JD-SL03N JD-SL03P JD-SR80CN JD-SR80CP JD-SR80N JD-SR80P JD-SW08CN JD-SW08CP JD-SW08N JD-SW08P JR-H300CN JR-H300CP JR-H300N JR-H300P JR-S300CN JR-S300CP JR-S300N JR-S300P JT-H1000CNR JT-H1000CPR JT-H1000NR JT-H1000PR JT-S1000CNR JT-S1000CPR JT-S1000NR JT-S1000PR

BGS-H15CN BGS-H15CP BGS-H15N BGS-H15P BGS-S15CN BGS-S15CP BGS-S15N BGS-S15P J2D-H100CN J2D-H100CP J2D-H100N J2D-H100P J2D-H10CN J2D-H10CP J2D-H10N J2D-H10P J2D-H70CN J2D-H70CP J2D-H70N J2D-H70P J2D-S100CN J2D-S100CP J2D-S100N J2D-S100P J2D-S10CN J2D-S10CP J2D-S10N J2D-S10P J2D-S70CN J2D-S70CP J2D-S70N J2D-S70P

BGS-3JH05CP BGS-3JH05N BGS-3JH05P BGS-3JS05CP BGS-3JS05N BGS-3JS05P J3M-GH01CN J3M-GH01CP J3M-GH01N J3M-GH01P J3M-GS01CP J3M-GS01N J3M-GS01P J3R-H100CP J3R-H100N J3R-H100P J3R-S100CP J3R-S100N J3R-S100P

JR-HQ50CNW JR-HQ50CPW JR-HQ50NW JR-HQ50NW-5 JR-HQ50PW JR-HQ50PW-5 JR-SQ50CNW JR-SQ50CPW JR-SQ50NW JR-SQ50NW-5 JR-SQ50PW JR-SQ50PW-5