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温度与薄膜厚度测量监测器

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更新时间：2017-08-18 14:18:39浏览次数：332次

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产品简介

薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 温度与薄膜厚度测量监测器

详细介绍

温度与薄膜厚度测量监测器

薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 温度与薄膜厚度测量监测器


	产品编号：	841482816
	产品名称：
	规　　格：
	产品备注：
	产品类别：	薄膜测量仪器

产品说明

Eon-LT™是一个基于电脑的薄膜厚度监测器，远远优于优于传统的监测器，传统的监测器无法感知晶体的热变化。本监测器是把频率和温度测量相结合，在实时速率和薄膜厚度监测方面可获取从来没有的精度。

为什么要测量温度？因为加热过程导致晶体的频率变化，毫无疑问等于镀膜引起的频率变化，对大多数速率测量，在正常操作会存在10%的误差，zui糟糕的情况，会产生100%的误差。如果你的测量总是出错，那就是我们为什么要用Eon-LT™温度测量薄膜厚度监测器来测量。

特点：

● 附加精密的温度测量

● 与、直观的 Eon™软件通信

● 与相应的速率和厚度相伴的实时温度和频率的测绘图

● 支持挡板的接通和断开

● 通信：RS-232, USB, 和 WiFi

● 双通道扩展能力

● 包括所有的连接电缆、软件和操作手册

● 驱动晶体6MHz,1-200Ω, 任何类型（石英、超级石英）

● 两个K型热电偶输入，精确到+/-0.25°C

● 两个高分辨传感头，输入精度达到0.001Hz

● 24V电源

● 工业标准的RS232通信协议

● 尺寸：4.5英寸 x 2.5英寸 x 1英寸

● 两个用户可选的传输口

● LED状态指示

产品 >> 薄膜测量仪器 >> 所有小类

共有 13 个产品

名称:

通用型薄膜生长厚度控制器 | 薄膜生长厚度控制仪

编号:

841411316

名称:

Tempe™高温薄膜测量系统 | Tempe™薄膜测量系统

编号:

8414101016

名称:

薄膜监测控制系统 (Phoenix™ System ID) | 精密薄膜监测控制系统

编号:

841492016

名称:

编号:

841482816

名称:

PhoenixTM 薄膜厚度监控系统 | 薄膜厚度监控仪 | 薄膜厚度监控器

编号:

841472316

名称:

OSC100型通用石英晶体振荡器 | 石英晶体振荡器

编号:

841463016

名称:

Tempe™ 高真空晶体传感器 | Tempe™高真空石英晶振片传感器

编号:

841453516

名称:

Infinity™多个晶振片传感器 | Infinity™多个晶体传感器

编号:

841444216

名称:

薄膜厚度传感器

编号:

841432316

55747.62

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