在前沿薄膜技术的设计和制造方面,我们开发了一个新的薄膜厚度控制器,控制器的内部封装了一个超高分辨的沉积控制系统。拥有综合显示,直观的GUI和坚实的架构,Eon-ID™ 是这个种类仪器的*产品,提供无所不包的设计;毫无疑问,Eon-ID™薄膜生长厚度控制器拥有超高分辨沉积控制系统,综合数据触摸屏显示,直观的图形用户界面;提供多种多样的设计和设置,精密的温度监测和源控制,适合各种各样的设置,其范围从工业到实验室,从净化间到多种研究环境。Eon-ID™呈现一体化的解决方案,这可能是你所需要的zui后一个薄膜石英监测控制器。 特点: ● 综合触摸屏显示,过程编程与监控,比使用智能手机还简单。 ● 通信:RS-232,USB和WiFi。 ● 机架式安装(每个插槽可安装1或2个Eon-ID™)。 ● 双传感器和源通道扩展能力(四通道可选)。 ● *的技术增加了在工业环境应用的可靠性和耐久性。 ● 突出的特点是内置温度监测和源控制。 ● 输出输入端口:继电器:10个(可编程),只有1个中止;输入:8个(可编程)。 |