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Femto Tools FT-MTA02微纳力学测试及操纵系统

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厂商性质代理商

所  在  地上海市

更新时间:2017-04-21 12:00:03浏览次数:1636次

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经营模式:代理商

商铺产品:33条

所在地区:上海上海市

联系人:王晟 (经理)

产品简介

FT-MTA02是一款集微纳力学测试、微纳机械性能测试、微纳三维操纵及组装于一身的微机器人系统。高分辨力传感探针配合高精度三维移动台能直接且同时精确测得5nN~100mN范围内的微力及1nm~26mm范围内的微位移。带有力传感的微钳能对于0~100um的物体进行拾取、移动、拉伸等操纵或组装。得益于模块化的设计,FT-MTA02能和许多仪器进行联用,例如:探针台、各类光学显微镜、工业产线集成等。

详细介绍

 

FT-MTA02是一款集微纳力学测试、微纳机械性能测试、微纳三维操纵及组装于一身的微机器人系统。高分辨力传感探针配合高精度三维移动台能直接且同时精确测得5nN~100mN范围内的微力及1nm~26mm范围内的微位移。带有力传感的微钳能对于0~100um的物体进行拾取、移动、拉伸等操纵或组装。得益于模块化的设计,FT-MTA02能和许多仪器进行联用,例如:探针台、各类光学显微镜、工业产线集成等。非常适合于MEMS、材料、生物等领域的微纳力学测试及操纵等研究。

 

FT-MTA02微纳力学测试及操纵系统

微力及微位移同步测量、微米/亚微米尺度的组装及操纵





                                                                                                                                                                                                                                                                           




 

一目了然,极简安装——无需任何复杂的布线与冗长的设置

力传感探针/(1nm~26mm)





                                                                                                                                                                                                                                                                          



 

FT-S力传感探针、FT-G力传感微钳,超高精度且量程丰富

5nN~100mN力学测试0~100um开口大小

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让你的FT-MTA02更好用——量身定制的光学显微平台

+/-90°可旋转镜筒、78mm超长工作距离、3um光学分辨、4英寸样品台
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模块化设计——与各类仪器联用进行协同测试

           探针台(力学-电学)                         倒置光学显微镜 (液体环境)                            正置光学显微镜               





                                                                                                                                                                                                                                                                           


 

一台仪器,精彩重重——丰富的应用成果

MEMS                                  材料力学                                  生物力学                                  微纳操纵




 

                                                                                                                                                                                                                                                                           


 

 

测试过程中同时记录微力、微位移及时间并将数据进行拟合

斜率即Stiffness[N/m],并可以进行Stiffness Mapping





                                                                                                                                                                                                                                                                           


 

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