PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜层测厚仪的探头,它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。 当启动statwin 2002时,一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。 所有功能操作只需点击一下鼠标或键盘。 STATWIN 2002用statwin 2002 ,可以分批储存和管理几乎任何数量的测量数据。 文件和归档几乎是无限的。 此外,该软件附带了大量的统计功能,可以实现测量评估和批次。 除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度(如钢铁上的漆层或铬层)和导电材料上的非导电层涂层的厚度(如非铁金属上的漆层) ,测量范围到1200 μ m的标准探头,我们还有特殊高精度的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头,双晶探头可测量厚度高达12.5mm,我们同时还提供完整的配件。 |
订货信息 STATWIN 2002 电脑软件 2904.001 用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0 |
探头,测量范围和订货号 |
探头 |
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厦门欣锐仪器仪表有限公司是一家多年从事进口仪器仪表设备销售的贸易公司,与众多*仪器厂家有着良好的合作关系,能提供专业的服务、优质的产品、优惠的价格。多年仪器设备的销售,使我公司具备专业的团队、能提供优质的产品、完善的售后服务。
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PC-LEPTOSKOP 2050德国卡尔德意志Karl deutsch涂层测厚仪PC-LEPTOS 产品信息