光谱分析仪

CMOS全谱光谱分析仪，该仪器光学系统采用帕型-龙格装置，高真空，分辨率高、灵敏度高等特点；由于机刻光栅可以产生较好的光谱，所以选线更具灵活性，从而避免光谱干扰；仪器结构设计合理，电子系统高度集成化电路，故障率低；分析速度快、重复性好、稳定性好；可用于多种基体分析： Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等；分析速度快捷，30秒内测完所有通道的元素成分。

一、CMOS全谱光谱分析仪技术特点

1、仪器光学系统采用帕型-龙格装置，高真空，分辨率高、灵敏度高等特点；由于机刻光栅可以产生较好的光谱，所以选线更具灵活性，从而避免光谱干扰；

2、仪器结构设计合理，电子系统高度集成化电路，故障率低；

3、分析速度快、重复性好、稳定性好；

4、可用于多种基体分析： Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等；

5、采用纯中文Windows系统下的操作软件，操作简单易懂；

6、计算机软件建有数据库系统，方便了测量数据的查询与打印，也可通过网络远程传输数据，方便快捷；

7、各项系统独立供电，组成单元，使用方便，维护简单；

8、采用光学部分恒温措施，保证了仪器的正常运行，从而降低了对环境的要求；

9、加、改变元素通道，通过软件设置就可以，无须添加任何硬件，省心、省时、省钱

10、分析速度快捷，30秒内测完所有通道的元素成分。针对不同的分析材料，通过设置预燃时间及标线，使仪器用较短的时间达到好的分析效果；

11、光谱仪光学系统采用真空、恒温光室， 激发时产生的弧焰由透镜直接导入真空光室，实现光路直通,消除了光路损耗，提高检出限，测定结果准确，重现性及稳定性较佳；

12、自动光路校准，光学系统自动进行谱线扫描，确保接收的正确性，免除繁琐的波峰扫描工作。仪器自动识别特定谱线，与原存储线进行对比，确定漂移位置，找出分析线当前的像素位置进行测定；

13、开放式的电极架设计，可以调整的样品夹，便于各种形状和尺寸的样品分析；

14、工作曲线采用标样，预做工作曲线，可根据需要延伸及扩展范围，每条曲线由多达几十块标样激发生成，自动扣除干扰；

15、激发能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料；

16、固态吸附阱，防止油气对光室的污染，提高*运行稳定性；

17、合理的氩气气路设计，使样品激发时氩气冲洗时间缩短，为用户节省氩气，氩气消耗不到普通光谱仪的一半；

18、高性能DSP及ARM处理器，具有超高速数据采集及控制功能并自动实时监测光室温度、真空度、氩气压力、光源、激发室等模块的运行状况。

二、CMOS全谱光谱分析仪参数

2.1光学系统

光学结构：帕邢-龙格结构的全谱光学系统

波长范围：160-680nm

光栅焦距：350nm

光栅刻线：3600/mm

一级光谱线色散率：1.1 nm/mm

光电检测器：多块高性能线阵CMOS

2.2 激发台

本激发台采用冲氩式，喷射式电极结构，带有自动吹扫功能。激发台开孔尺寸13mm。

2.3 激发光源

类型：全数字式火花激发光源

频率：100-1000Hz

放电电流：脉冲1-400A

2.4 数据采集系统

ARM处理器，高速数据同步采集处理，基于DM9000A的以太数据传输。