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便携式光学膜厚仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号 FR-portable
  • 品牌
  • 厂商性质 代理商
  • 所在地 北京市

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更新时间:2022-10-21 16:31:29浏览次数:289

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产品简介

FR-portable 便携式膜厚仪主要由以下系统组成:
Α白炽-LED混合集成式光源系统,通过内嵌式微处理器控制,使用寿命超过20000小时。
小型光谱仪,光谱范围370nm –1050nm,分辨精度可达3648像素, 16位级 A/D 分辨精度;配有USB通讯接口;
Β) FR-Monitor膜厚测试软件系统,

详细介绍

 

FR-portable 便携式膜厚仪主要由以下系统组成:

Α白炽-LED混合集成式光源系统,通过内嵌式微处理器控制,使用寿命超过20000小时。

小型光谱仪,光谱范围370nm –1050nm,分辨精度可达3648像素, 16位级 A/D 分辨精度;配有USB通讯接口;

Β) FR-Monitor膜厚测试软件系统,

可精确计算如下参数:

1)单一或堆积膜层的厚度;

2)静态或动态模式下,单一膜层的折射率;本软件包含了类型丰富的材料折射率数据库,可以有效地协助用户进行线下或者在线测试分析。本系统可支持吸收率,透射率和反射率的测量,还提供任何堆积膜层的理论性反射光谱,一次使用*,即可安装在任何其他电脑上作膜厚测试后的结果分析使用。

C) 参考样片:

a) 经校准过的反射标准硅片;

b) 经校准过的带有SiO2/Si 特征区域的样片;

c) 经校准过的带有Si3N4/SiO2/Si特征区域的样片;

D) 反射探针台和样片夹具

可处理大的样品尺寸达200mm, 包含不规则的尺寸等;

手动调节可测量高度可达50mm

可针对更大尺寸订制样片夹具;

Ε) 反射率测量的光学探针

内嵌系统6透射光探针200μm, 1组反射光探针200μm

F) 附件

FR-portable透射率测量套件;

Thickness measurement range

12nm – 90μm

Refractive Index calculation

P

Thickness measurement Accuracy

0.2% or 1nm

Thickness measurement Precision

0.04nm or 1‰ (0.01nm)

Thickness measurement stability

0.02nm

Sample size

1mm to 200mm and up

Spectral Range

400nm – 1100nm

Working distance

3mm-20mm

Spot size

0.35mm (diameter of the reflectance area)

Light Source Lifetime

20000h

Wavelength resolution

0.8nm

Number of Layers Measured

Max. 5 layers

Measurement time (max acquisition speed)

10ms/point

A/D converter

16 bit

Power

USB – supplied

Dimensions

300mm x 110mm x 40mm

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