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抗干扰介质损耗测试仪,变频抗干扰介质损耗测试仪

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XGCT-A CT西安*伏安特性测试仪

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  • 所 在 地:
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  • 上海徐吉电气有限公司
  • 2023-05-29 12:58:24
  • 上海市
  • 上海宝山
  • 260

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【简单介绍】

XGCT-A CT特性综合测试仪 •可保存3000组测试资料,掉电后不丢失.武汉西高华电电气有限公 •支持U盘转存资料,可以通过标准的PC进行读取,并生成检测报告.•小巧轻便≤22Kg,非常利于现场测试. 4.测试仪主要测试功能:(见表1)CT(保护类、计量类) •伏安特性(励磁特性)曲线 •自动给出拐点值 •自动给出5%和10%的误差曲线 •变比测量 •极性判断 •一次通流测试 •交流耐压测试

【详细说明】

5.测试仪主要技术参数:(见表2)项目参数

工作电源

设备输出

大电流输出

励磁测量精度

CT

变比测量范围精度AC220V±10%、50Hz0~1000V(20A峰值)0~600A≤0.5%(0.2%*读数+0.3%*量程)≤5000A/1A(25000A/5A)≤0.5%

温度:-10℃~40℃,湿度:≤90%,海拔高度:≤1000m

尺寸:400mm×250mm×250mm,重量:≤20Kg

    
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