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技术文章
介质损耗测试仪详细简介
点击次数:1090 发布时间:2016-7-28
介质损耗测试仪详细简介
一、概况
SX介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。SX介质损耗测试仪淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗力强, 测试时间短等优点,SX介质损耗测试仪是第三代智能化介质损耗测试仪。
二、技术指标
1、环境:-5℃~40℃(液晶屏应避免长时间日照)
2、相对湿度:30%~70%
3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz
4、外形尺寸:长*宽*高=440mm*295mm*360mm
5、重量:22.5kg
6、输出功率:1.5KVA
7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位)
8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围:内接试验电压:≤60000PF(10KV电压大于30000PF)
外接试验电压:由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差:
介质损耗(tgδ):1%±0.04%
电容容量(Cx):1%±1pF